為保護(hù)電子裝置中的金屬接點(diǎn)免受環(huán)境的損壞的作用，共性覆膜被越來越多的生產(chǎn)廠商所提及。這種方法如何能判斷膠黏劑涂覆效果呢？我們用CMF-300型熒光分光光度計(jì)對該應(yīng)用進(jìn)行實(shí)驗(yàn)分享，這樣有助于生產(chǎn)廠商對涂覆膠粘劑（涂覆膠、三防膠）使線路板表面形成一個(gè)絕緣和防潮層，隔離灰塵和顆粒以避免短路，從而起到保護(hù)密封元器件減少與環(huán)境的接觸并阻擋腐蝕，保護(hù)電子裝置中的金屬接點(diǎn)免受環(huán)境的損壞的作用。
由于大部分的膠粘劑在涂覆之后都會呈現(xiàn)出無色透明狀，肉眼很難檢查涂覆效果進(jìn)行判斷。所以在實(shí)際使用過程中會向膠粘劑里添加一定量的熒光劑，通過測試涂覆之后產(chǎn)品的熒光現(xiàn)象來檢查膠黏劑的涂覆與否及其均勻程度。
應(yīng)用分子熒光分光光度計(jì)測試涂覆膠黏劑（涂覆膠、三防膠）后產(chǎn)品的熒光發(fā)射譜圖，通過譜圖尋找熒光特征峰、比較熒光峰的熒光強(qiáng)度來判斷該樣品是否涂覆了膠黏劑或者是否涂覆均勻，此方法操作簡單，效果顯著。
關(guān)鍵詞：熒光分光光度法,分光光度計(jì),熒光光度計(jì),膠黏劑,涂覆膠,三防膠
一、原理：
分子熒光分光光度法是一種對熒光物質(zhì)進(jìn)行定性鑒別、定量的有效方法。根據(jù)膠粘劑中添加熒光物質(zhì)的種類和含量不同，通過觀察熒光譜圖確定最佳激發(fā)波長和最佳發(fā)射波長，比較熒光峰處的熒光強(qiáng)度判斷膠黏劑涂覆是否均勻。
產(chǎn)品涂覆與未涂覆膠黏劑在紫外光照射下對比圖
二、實(shí)驗(yàn)條件：
1、儀器及附件：
主機(jī)：CMF-300型熒光分光光度計(jì) 1臺
附件：固體樣品支架 1個(gè)
其它：石英載玻片 同樣品數(shù)量
玻璃毛細(xì)管 同樣品數(shù)量
2、分析條件：
測量類型 | 波長掃描 | 三維掃描 |
掃描模式 | 激發(fā)光譜/發(fā)射光譜 | 3D掃描 |
激發(fā)狹縫 | 5nm | 5nm |
發(fā)射狹縫 | 5nm | 5nm |
掃描速度 | 1200nm/min | 30000nm/min |
靈敏度 | 0.1s | 0.004s |
增 益 | 1 | 1 |
電壓 | 400V | 400V |
光譜校正 | 否 | 否 |
備注：此分析條件僅供參考。不同膠黏劑添加的熒光物質(zhì)及含量不盡相同，選擇的分析條件也會不同，以實(shí)際測試為主。
三、實(shí)驗(yàn)方法
以三種樣品為例：硅膠（黑色）、熱熔膠（白色）、UV膠（藍(lán)色）。
用玻璃毛細(xì)管沾取三種樣品分別均勻地涂抹在石英載玻片上。其中熱熔膠樣品需在烘箱里110℃加熱，使之溶解后再涂抹。 |
四、測定結(jié)果
1、硅膠（黑色）
（1）激發(fā)375nm，掃描樣品發(fā)射譜圖
（2）發(fā)射431nm，掃描樣品激發(fā)譜圖
（3）三維譜圖
（4）重復(fù)性
將樣品涂抹于石英基底，固定在固體樣品支架上，石英面對著光源，重復(fù)測試三次。
2、熱熔膠（白色）
（1）激發(fā)377nm，掃描樣品發(fā)射譜圖
（2）發(fā)射433nm，掃描樣品激發(fā)譜圖
（3）三維譜圖
（4）重復(fù)性
將樣品涂抹于玻璃基底，固定在固體樣品支架上，樣品面對著光源，重復(fù)測試三次。
3、UV膠（藍(lán)色）
（1）激發(fā)375nm，掃描樣品發(fā)射譜圖
（2）發(fā)射431nm，掃描樣品激發(fā)譜圖
（3）三維譜圖
（4）重復(fù)性
將樣品涂抹于玻璃基底，固定在固體樣品支架上，樣品面對著光源，重復(fù)測試三次。
五、結(jié)論
應(yīng)用分子熒光分光光度計(jì)對涂覆膠黏劑的產(chǎn)品進(jìn)行熒光掃描，可以快速的分析出產(chǎn)品中是否含有熒光物質(zhì)及其含量多少，從而判斷膠黏劑是否被涂覆上及其涂覆均勻程度。此方法操作簡單，重復(fù)性好，結(jié)果可靠，是研究產(chǎn)品涂覆效果的理想方法。
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