BOK-X原位漫反射附件通過”X”型的光路設(shè)計提高了對漫散射的收集，同時減少了鏡面反射干擾，從而獲得高質(zhì)量的光譜。使用BOK-X原位漫反射附件，只需極少的樣品制備就可分析各種樣品。
BOK-X原位漫反射附件設(shè)備頂部設(shè)有觀察孔，該觀察孔正位于樣品點上方，可以方便的通過鏡頭觀察和拍攝反應(yīng)過程，同時也可以引入激光誘導(dǎo)反應(yīng)或觀測拉曼光譜！
原理
BOK-X原位漫反射附件的一個橢球鏡將入射光束聚焦在樣品上，另一個橢球鏡則從樣品中收集漫反射光，這兩個橢球鏡以一定角度傾斜，可以在120°的角收集漫反射光，這種光學(xué)設(shè)計可以比一般的對稱設(shè)計多收集20%的漫反射光，使得我們的附件比其他附件更加靈敏、高效、實用。
特點
1.高反射率鍍金離軸橢球鏡
2.高效的光學(xué)反射系統(tǒng)，附件透過率優(yōu)于 70%
3.卓越的X型光路設(shè)計，排除反射信號，只采集漫反射信號
4.大附件空間，允許裝配不同的漫反射原位反應(yīng)器
5.廣泛兼容不同品牌的紅外、紫外-可見光譜儀
應(yīng)用
1.對粉末和固體進行簡單可靠的漫反射分析
2.催化和在溫控或壓力環(huán)境下的分析其它粉末
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